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减少X射线成像检查中使用的放射剂量的方法及CT系统

摘要

本发明涉及一种方法以及一种X射线系统,特别是一种CT系统(C1),其中,为了减少在成像X射线检查中使用的放射剂量,对所拍摄的每个像素确定在被检查的像素周围给定距离内的可能存在的结构的结构信息,并在每个被检查的像素上应用取决于方向的低通滤波器,该低通滤波器的空间作用范围小于所述给定距离,并且,通过该低通滤波器的取决于方向的权重来考虑可能存在的结构的形态学信息。

著录项

  • 公开/公告号CN102525531B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-10-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201110362931.2

  • 发明设计人 H.布鲁德;T.弗洛尔;R.劳佩克;

    申请日2011-11-16

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 09:30:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    授权

    授权

  • 2013-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20111116

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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