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一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法

摘要

本发明提供了一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法。该方法采用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的非磁性模具对柔性磁性薄膜产生应变,得到所施加应力与无应力存在时的应力差Δσ,然后利用磁光克尔效应测试系统测量该柔性磁性薄膜样品在无应变与应变条件下各向异性场的变化量ΔHK,通过饱和磁致伸缩系数公式λs=ΔHkMs/(3Δσ),直接计算得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs。与现有磁性薄膜的磁致伸缩系数测量方法相比,本发明具有测量精度高、简单易行、成本低的优点,具有良好的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN102890252B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210363918.3

  • 申请日2012-09-26

  • 分类号G01R33/18(20060101);

  • 代理机构11327 北京鸿元知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈英俊

  • 地址 315201 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号

  • 入库时间 2022-08-23 09:30:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-14

    授权

    授权

  • 2013-03-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/18 申请日:20120926

    实质审查的生效

  • 2013-01-23

    公开

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