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激光位移传感器表面测量中反射光线遮蔽的消除方法

摘要

一种激光位移传感器表面测量中反射光线遮蔽的消除方法,测量前先对三个标准平面进行测量,得到激光位移传感器绕Z轴旋转前、后的位置偏差值,测量按规划好的路径进行,如无遮蔽现象则沿测量进给方向增加递增值,测量下一条路径,如在某条路径中出现反射光遮蔽现象,则在路径终点处将激光位移传感器绕Z轴旋转180度,并对光点位置进行校正,重新测量该路径后再沿测量进给方向增加递增值,直至对所有的路径完成测量。本发明通过将激光位移传感器绕Z轴旋转一定角度的方法来使反射光线离开遮蔽工件,可在一定范围内消除测量死区问题,算法简单,对设备要求低,操作简便,测量效率高。

著录项

  • 公开/公告号CN1180221C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN02137507.0

  • 发明设计人 王宇晗;李晔;

    申请日2002-10-17

  • 分类号G01B11/03;H01S3/00;

  • 代理机构上海交达专利事务所;

  • 代理人毛翠莹

  • 地址 200030 上海市华山路1954号

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-12-16

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-12-15

    授权

    授权

  • 2003-05-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-03-19

    公开

    公开

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