基于双光纤点衍射移相干涉的折射率测量方法

摘要

本发明公开了一种基于双光纤点衍射移相干涉的折射率测量技术与装置，属于光学测量技术领域。首先调节测量光纤，使其与参考光纤关于薄膜分光镜共轭，此时CCD摄像机上干涉条纹为空，采集和处理移相干涉图，得到出瞳面上波差的拟合系数；然后将加工成平行平板的被测样品插入测量光纤与薄膜分光镜之间，从而改变测量光纤与参考光纤的光程差，此时CCD摄像机上出现同心圆环状干涉条纹，采集和处理移相干涉图，再次得到出瞳面上波差的拟合系数。测量出参考光纤到CCD摄像机的距离，可计算出引入平行平板后光纤点光源的轴向位移。进而在测量平行平板厚度的基础上计算出被测样品折射率。该装置结构简单，能够精确简便的测量固体或液体的折射率。