首页> 中国专利> 高精度双F-P角位移测量仪

高精度双F-P角位移测量仪

摘要

高精度双F-P角位移测量仪,包括:带有驱动电源的调制光源,沿着调制光源发出的光束的前进方向上放置着准直物镜和反射镜,在该反射镜的反射光束前进方向上放置被测转动镜面,该被测转动镜面反射光方向上放置一分束镜,该分束镜的端口b出射光束方向上依次放置第一F-P干涉仪、第一透镜和第一光电转换元件,该第一光电转换元件经第一模数转换器与计算机相连,分束镜端口c出射光束方向依次放置第二F-P干涉仪、第二透镜和第二光电转换元件,第二光电转换元件经第二模数转换器与计算机的相连,分束镜端口d放置第三光电转换元件并经图像采集卡与计算机相连。本发明的测量分辨率达到了纳弧度量级。

著录项

  • 公开/公告号CN1170122C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-10-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN03116347.5

  • 发明设计人 张彩妮;王向朝;

    申请日2003-04-11

  • 分类号G01B21/22;

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/22 授权公告日:20041006 申请日:20030411

    专利权的终止

  • 2004-10-06

    授权

    授权

  • 2003-12-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-09-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号