公开/公告号CN1170122C
专利类型发明授权
公开/公告日2004-10-06
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN03116347.5
申请日2003-04-11
分类号G01B21/22;
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人张泽纯
地址 201800 上海市800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-23 08:57:08
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-08-04
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/22 授权公告日:20041006 申请日:20030411
专利权的终止
2004-10-06
授权
授权
2003-12-03
实质审查的生效
实质审查的生效
2003-09-17
公开
公开
机译: 基于F-P干涉仪的腔内双波长共通相显微镜成像测量系统
机译: 使用线性步进电机驱动的高精度位置系统-具有相角位移的输入电流信号,并应用了校正过程
机译: 一种用于高精度测量或识别角位移的装置