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机译：一种用于高精度测量或识别角位移的装置
公开/公告号FR55745E
专利类型
公开/公告日1952-09-04
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号FRD55745
发明设计人 PARNET ARSENE;
申请日1944-04-20
分类号
国家 FR
入库时间 2022-08-24 01:04:28
机译： 用于测量旋转装置位置装置的一个或多个几何和运动学参数的装置，以测量装置的几何中心的任何横向位移。用于测量旋转装置到装置装置的参考点组的基本瞬时角位置的旋转的装置当旋转装置绕旋转轴旋转时，实质上测量装置的velOcidade瞬时角旋转。旋转轴系支持X射线断层扫描法测定参数。与装有圆盘的设备的移动相关联的设备假定您在围绕旋转轴的旋转平面中旋转。
机译： 用干涉仪测量物体的角位移的装置和方法，能够在光束变化的路径长度时测量可旋转反射面的角位移
机译： 同时测量线性和角位移的装置，能够精确测量线性和角位移信息
