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检测光束准直的剪切干涉仪

摘要

本发明属于光学仪器系统领域的一种检测光束准直的剪切干涉仪,用于光学与激光工程,光学与激光实验中光束准直的检测。由入射光阑屏、带有楔角的可以旋转360°的剪切干涉平板和图形观测屏三部分组成。这三部分既可以设计成一体式的,也可以是分离式的。本发明的干涉仪具有检测灵敏度高,可检测较大光束口径,并能够直接给出定量的结果等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN1018386B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1992-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN90101910.0

  • 发明设计人 徐德衍;

    申请日1990-04-03

  • 分类号G01M11/00;G02B9/02;

  • 代理机构中国科学院上海专利事务所;

  • 代理人李兰英

  • 地址 201800 上海市嘉定县嘉定镇清河路390号

  • 入库时间 2022-08-23 08:54:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1997-05-21

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 1993-06-23

    授权

    授权

  • 1992-09-23

    审定

    审定

  • 1991-10-23

    公开

    公开

  • 1991-03-27

    实质审查请求已生效的专利申请

    实质审查请求已生效的专利申请

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