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基于二象限探测器的放电等离子体电子密度测量装置

摘要

本发明公开了一种放电等离子体电子密度测量装置及方法。装置包括探测光源、二象限探测器和信号处理器。将探测光源与二象限探测器分别放置在两个旋转平移台上,分置于放电装置的两端,使探测光源的激光对准二象限探测器的中心;重复多次将探测光源与二象限探测器在同一个维度上移动相同的距离,记录放电时不同位置二象限探测器两个光敏面的响应幅值比;再由信号处理器根据两个光敏面的响应幅值比计算出该维度上放电等离子体电子密度分布。本发明克服了传统测量装置系统结构复杂、设备昂贵的缺点,同时能够有效的提高测量精度,并且对放电等离子体不造成干扰,得到放电等离子体电子密度的空间分布。

著录项

  • 公开/公告号CN103068136B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201210533905.6

  • 申请日2012-12-11

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05H 1/00 授权公告日:20150819 终止日期:20161211 申请日:20121211

    专利权的终止

  • 2015-08-19

    授权

    授权

  • 2015-08-19

    授权

    授权

  • 2013-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05H 1/00 申请日:20121211

    实质审查的生效

  • 2013-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05H 1/00 申请日:20121211

    实质审查的生效

  • 2013-04-24

    公开

    公开

  • 2013-04-24

    公开

    公开

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