使用有源电磁波识别潜在的威胁物质

摘要

隐藏介电对象的电性质，诸如介电电容率，能够从成像系统中的入射、反射以及透射电磁波推得。在共焦布置中，喇叭照射反射阵列，且反射阵列配置为将辐射聚焦在扫描体积中的单元处。反射依次由反射阵列重聚焦于喇叭孔隙处。反射阵列电配置为遍及扫描体积以系统方式扫描焦点。喇叭模式和扫描策略的知识容许系统计算与每个体积单元关联的几何结构。对象和周围体积之间的幅度和相位变化以及计算的几何结构用于估计相对电容率，并从而有助于使用物质相对电容率的数据库对对象进行归类。