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用于自动确定最优参数化的散射测量模型的方法

摘要

提供了用于分析具有未知参数的样本衍射结构的散射测量模型优化参数的自动确定。预处理器根据多个浮动的模型参数,确定简化的模型参数集合,该简化的模型参数集合能够基于从关于每个参数的测得的光谱信息的雅克比矩阵中确定的用于每个参数的相对精度,合理地在散射测量模型中浮动。在考虑组合的参数间的相关性的情况下,确定用于每个参数的相对精度。

著录项

  • 公开/公告号CN103026204B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201180032548.9

  • 申请日2011-07-18

  • 分类号G01N21/47(20060101);G01N21/27(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-19

    授权

    授权

  • 2015-07-15

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N 21/47 变更前: 变更后: 申请日:20110718

    著录事项变更

  • 2015-07-15

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G01N 21/47 变更前: 变更后: 登记生效日:20150626 申请日:20110718

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20110718

    实质审查的生效

  • 2013-04-03

    公开

    公开

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