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一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法

摘要

本发明涉及一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法。砂轮粗倒角槽直径比晶片厚度小120~150μm,半角度18~22°,深度1000±100μm,金刚石粒度600~1000#;精倒角槽直径比晶片厚度小160~180μm,半角度11°,深度1500±100μm,金刚石粒度1000~2000#。粗倒角砂轮转速2500~5000rpm;加工1~2圈;晶片转速16~20mm/s;精倒角砂轮转速3000~5000rpm;加工2~4圈;晶片转速10~15mm/s。采用本发明对晶片边缘倒角,边缘轮廓精度高,边缘质量一致性好,有效解决厚层外延生长过程中因硅片边缘缺陷导致的滑移线问题。

著录项

  • 公开/公告号CN103394982B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310363809.6

  • 申请日2013-08-20

  • 分类号B24B9/16(20060101);

  • 代理机构12105 天津中环专利商标代理有限公司;

  • 代理人王凤英

  • 地址 300220 天津市河西区洞庭路22号

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-28

    专利实施许可合同备案的生效 IPC(主分类):B24B 9/16 合同备案号:2016120000039 让与人:中国电子科技集团公司第四十六研究所 受让人:天津晶明电子材料有限责任公司 发明名称:一种加工厚层外延用硅单晶片的倒角砂轮及倒角方法 申请公布日:20131120 授权公告日:20150729 许可种类:独占许可 备案日期:20161201 申请日:20130820

    专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

  • 2015-07-29

    授权

    授权

  • 2013-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 9/16 申请日:20130820

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

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