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形成受控深沟槽顶部隔离层的装置和方法

摘要

用以控制半导体存储器的深沟槽中隔离层厚度的方法包括以下步骤:形成深沟槽,在深沟槽中形成具有埋层带的存储节点;在埋层带上淀积隔离层,用来为存储节点提供电隔离;在隔离层上形成用来掩蔽隔离层的与埋层带接触的部分的掩蔽层;以及去除隔离层的除了由掩蔽层掩蔽的部分之外的部分,从而改善对隔离层的厚度的控制。还包括制造垂直晶体管的方法:使基片凹进,使得可以增加晶体管沟道与埋层带向外扩散部分之间的重叠。还公开一种半导体存储器。

著录项

  • 公开/公告号CN1165984C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN99111868.5

  • 发明设计人 U·格吕宁;

    申请日1999-07-30

  • 分类号H01L21/76;H01L21/8239;H01L21/8242;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人吴增勇;陈景峻

  • 地址 联邦德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/76 授权公告日:20040908 终止日期:20160730 申请日:19990730

    专利权的终止

  • 2016-01-13

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 登记生效日:20151223 变更前: 变更后: 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-01-13

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 登记生效日:20151223 变更前: 变更后: 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-03-27

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 变更前: 变更后: 登记生效日:20130226 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-03-27

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 变更前: 变更后: 登记生效日:20130226 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-03-27

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 变更前: 变更后: 登记生效日:20130226 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-03-27

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/76 变更前: 变更后: 登记生效日:20130226 申请日:19990730

    专利申请权、专利权的转移

  • 2004-09-08

    授权

    授权

  • 2004-09-08

    授权

    授权

  • 2001-05-16

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2001-05-16

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-02-09

    公开

    公开

  • 2000-02-09

    公开

    公开

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