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一种航天器上设备精度的测定方法

摘要

本发明涉及一种航天器上设备精度的测定方法。在待测量设备上安装一个标定转移基准;待测量设备交付前,测量标定转移基准与待测量设备之间的关系;待测量设备交付装于卫星上后,测量标定转移基准的精度,然后通过得到的测量标定转移基准与待测量设备之间的关系,得到待测量设备的精度。本发明针对航天器上有精度要求的设备精测光路被遮挡的情况,实现对设备进行精测;该方法简单、安全、可靠、准确。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-08

    授权

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  • 2013-06-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 21/00 申请日:20121226

    实质审查的生效

  • 2013-05-01

    公开

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