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在形成半导体构造期间利用微波辐射的方法

摘要

一些实施例包含其中在形成半导体构造期间使用微波辐射来激活掺杂剂及/或增加半导体材料的结晶度的方法。在一些实施例中,所述微波辐射具有约5.8吉赫的频率,且在暴露于所述微波辐射期间所述半导体构造的温度不超过约500℃。

著录项

  • 公开/公告号CN102150238B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN200980135344.0

  • 申请日2009-08-20

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人宋献涛

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-17

    授权

    授权

  • 2011-09-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/265 申请日:20090820

    实质审查的生效

  • 2011-08-10

    公开

    公开

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