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基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法

摘要

本发明属于数控加工技术领域,特别涉及一种基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法。包括:选定轮廓测量点逐一进行测量,并计算各测量点测量数据与基准轮廓数据的偏差;将计算出的各点偏差数据映射到坐标系中,采用样条曲线将各偏差数据点连接起来;从样条曲线上获取每个加工点的偏差值;将偏差值补偿到对应的路径点中。本发明以路径单元为对象,采用样条误差补偿的方式,有效避免了线性方法造成的不光滑路径拐点,补偿路径更加光顺,满足了高精高速加工要求,同时获得更佳的表面效果,可以完成对较大变形量工件的路径补偿;并且简单易用,编程效率高,有效降低了生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN102865847B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京精雕科技集团有限公司;

    申请/专利号CN201210381392.1

  • 发明设计人 蔡锐龙;孙艺华;

    申请日2012-10-10

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 102308 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-24

    著录事项变更 IPC(主分类):G01B 21/20 变更前: 变更后: 申请日:20121010

    著录事项变更

  • 2015-06-24

    授权

    授权

  • 2013-02-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/20 申请日:20121010

    实质审查的生效

  • 2013-01-09

    公开

    公开

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