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一种针对RRAM的快速写验证方法和系统

摘要

本发明公开了一种针对RRAM的快速写验证方法,包括:创建并初始化查找表,将计数器的值i初始化为0,计数器用来记录一次写操作过程中施加电压脉冲的次数,判断RRAM的存储单元要求写“0”还是写“1”,如果要求写“0”则在RRAM的存储单元两端施加一次反向电压脉冲,其幅值为V_0(i),以改变RRAM存储单元的阻值,并设置计数器i=i+1,读取RRAM存储单元的阻值,并判断该RRAM存储单元阻值是否低于预设的高阻态阻值阈值R_H,如果是,则判断计算器i是否小于最大施加电压脉冲次数N_max,如果不是则表示写操作失败。本发明可使RRAM存储单元的阻值尽可能地快速分布在预设的高阻态或低阻态范围内,因而可容易区分存储单元的高阻态和低阻态,由此保证RRAM读写的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN103337255B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201310250101.X

  • 申请日2013-06-21

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人朱仁玲

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 13/00 授权公告日:20150617 终止日期:20180621 申请日:20130621

    专利权的终止

  • 2015-06-17

    授权

    授权

  • 2015-06-17

    授权

    授权

  • 2015-03-18

    著录事项变更 IPC(主分类):G11C13/00 变更前: 变更后: 申请日:20130621

    著录事项变更

  • 2015-03-18

    著录事项变更 IPC(主分类):G11C 13/00 变更前: 变更后: 申请日:20130621

    著录事项变更

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C13/00 申请日:20130621

    实质审查的生效

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 13/00 申请日:20130621

    实质审查的生效

  • 2013-10-02

    公开

    公开

  • 2013-10-02

    公开

    公开

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