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等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法

摘要

本发明公开了一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法,通过对参数观测值出现的次数以及对应观测值下屏的等级进行关联,确定与各参数取值关联性最大的屏等级,从而将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。本发明的积极效果是:节约通过反复试验设计与验证的方式所耗费时间和资源成本,提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程参数取值的准确性,并且通过调整后的新历史数据积累,进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏品质的制造过程参数取值。同时,在方法模型的使用过程中,不会涉及生产线的中断生产,避免了不必要的停线损失。

著录项

  • 公开/公告号CN103219209B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川虹欧显示器件有限公司;

    申请/专利号CN201310161200.0

  • 申请日2013-05-04

  • 分类号H01J9/00(20060101);

  • 代理机构51214 成都九鼎天元知识产权代理有限公司;

  • 代理人邓世燕

  • 地址 621000 四川省绵阳市经济开发区绵州大道中段186号长虹工业园

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-10

    授权

    授权

  • 2013-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 9/00 申请日:20130504

    实质审查的生效

  • 2013-07-24

    公开

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