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用于确定错误屏蔽因素的反向分析的改善

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介绍一种用于在电子电路中确定错误可观测性的方法和装置。在该方法中，为每个元件确定时间间隔，在所述时间间隔中，出现的错误可能引起分析输出信号的偏差。

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公开/公告号CN102770777B

专利类型发明专利
公开/公告日2015-05-20

原文格式PDF
申请/专利权人罗伯特·博世有限公司;
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申请/专利号CN201180012050.6
发明设计人 R.哈特尔;
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申请日2011-02-08
分类号G01R31/3183(20060101);G06F17/50(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人李少丹;李家麟
地址德国斯图加特
入库时间 2022-08-23 09:26:00

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2015-05-20

授权

授权
2012-12-26

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3183 申请日:20110208

实质审查的生效
2012-11-07

公开

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1. 用于确定错误屏蔽因素的反向分析的改善 [P] . 中国专利： CN102770777B . 2015.05.20
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