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基于FPGA相同周期信号的相位差测量方法

摘要

本发明提供了一种基于FPGA相同周期信号的相位差测量电路及测量方法,主要解决已有技术测量周期信号的相位差分辨率低,测量误差大的问题。本发明包括:第一测量通道、第二测量通道和逻辑控制单元,其中,第一测量通道与第二测量通道相互独立,逻辑控制单元通过对第一测量通道和第二测量通道的测量过程进行控制,以分别完成对相同周期信号中相位超前信号的逐级抽头延迟,对延迟抽头个数的逐级抽头计数以及两个相同周期信号边沿对齐检测,并根据两个通道的计数结果计算相同周期信号相位差。本发明结构简单,易于实现,降低了测量误差,提高了测量分辨率,可用于时间同步、卫星导航定位、激光测距中对相同周期信号相位差的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN103105534B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201310039610.8

  • 申请日2013-01-31

  • 分类号G01R25/00(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-20

    授权

    授权

  • 2013-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 25/00 申请日:20130131

    实质审查的生效

  • 2013-05-15

    公开

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