首页> 中国专利> 一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法

一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法

摘要

一种哈特曼复合传感器内各探测器光轴基准实时探测方法,哈特曼复合传感器包含接收光路和发射光路两路探测器,在复合传感器内部加入一路准直细光束激光基准信标,通过分光模块后分别进入两路子传感器,两路子传感器校正光束均为带中心遮拦光束,利用微透镜阵列基片中心遮拦处的聚集透镜将准直细光束激光基准信标成像于各探测器。在工作时同时测量两路探测器各自的基准信标质心偏移相对基准位置的变化量,根据此变化量进行实时闭环控制.本发明有效消除了复合传感器内部各探测器工作过程中由于温漂或振动带来的光轴变化,适合长时间连续工作条件下激光发射,还可避免外部振动等原因带来的误差,且简单有效可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN103292911B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201310204563.8

  • 申请日2013-05-28

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人李新华

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-22

    授权

    授权

  • 2013-10-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 9/00 申请日:20130528

    实质审查的生效

  • 2013-09-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号