首页> 中国专利> 磁传感器、使用磁传感器进行磁缺陷检测的方法及装置

磁传感器、使用磁传感器进行磁缺陷检测的方法及装置

摘要

提供了一种不减少初动就能高精度进行磁缺陷检测的磁传感器及使用该磁传感器的磁缺陷测试方法及装置。用于检测待检磁化主体的缺陷部分产生的磁通的磁传感器(50)包括:具有配置在待检的钢板(13)邻近区域上的磁极(51a、51b、51c)的E形铁芯(51);绕制在E形铁芯的中间磁极(51b)上、用于检测磁通量的测试线圈(52)。游离于E形磁传感器周围的外部磁场从E形铁芯(51)的相对侧磁极(51a、51c)通过,但不穿过E形铁芯的中间磁极(51b)。相应地,外部磁场不在测试线圈(52)中感应电压,测试线圈只检测缺陷部分引起的磁通量。因此,改善了相对于外部磁场的方向性,抑制了外部磁场引起的噪声电压的产生,提高了缺陷检测时的S/N。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-23

    专利权有效期届满 IPC(主分类):G01N 27/83 授权公告日:20040421 申请日:19961031

    专利权的终止

  • 2004-04-21

    授权

    授权

  • 1998-01-28

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1998-01-07

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号