首页> 中国专利> 制造混合高k/金属栅堆叠件的方法

制造混合高k/金属栅堆叠件的方法

摘要

公开了制造具有混合HK/金属栅极堆叠件的半导体器件的方法。该方法包括提供半导体衬底,该半导体衬底具有位于PFET和NFET区域之间的多个隔离部件,和在半导体衬底上形成栅极堆叠件。在PFET区域中,栅极堆叠件形成为HK/金属栅极。在NFET区域中,栅极堆叠件形成为多晶硅栅极。通过利用另一个多晶硅栅极将高电阻器形成在半导体衬底上。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-15

    授权

    授权

  • 2013-10-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8238 申请日:20130107

    实质审查的生效

  • 2013-09-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号