一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法

摘要

本发明涉及一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法，属于粒度分析技术领域。本发明通过用筛析法从有代表性的样品中选取多个窄粒度分布范围样品，并计算出各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值和激光法中值，对得到的筛析法中值和激光法中值进行数据回归分析，得到校正公式；最后利用校正公式将样品的激光法粒度分析结果校正为筛析法粒度分析结果，或反之。本发明针对激光法和其它方法分析数据的明显差异，在大量实验数据对比分析的基础上，建立校正公式，从原理上合理的解决了激光法和筛析法粒度分析数据在数据对比和数据对接时数据的校正问题。该方法可以推广至其它粒度分析方法的数据校正。