判断失效率与选择最佳预处理周期的方法

摘要

一种判断失效率与选择最佳预处理周期的方法，至少包括：提供数个集成电路；根据测试环境下各集成电路的有效工作期限建立失效率一测试时间关系，并建立加速因子函数，它为测试环境的测试时间与正常工作环境的真实时间的关系；使用以测试时间或真实时间为变数的函数模拟失效率一时间关系，此测试时间与真实时间的转换使用加速因子函数，且函数的转折点即为最佳预处理周期；对真实时间大于最佳预处理周期的部份进行函数的积分计算，以得到累积失效率一真实时间函数。当函数转折点所对应的特定测试时间前已有不只一个集成电路失效时，可消除部份测量资料并重新找寻特定测试时间，直到在特定测试时间前只有一个集成电路失效为止。