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基于双谱分析的结构微裂纹混频非线性超声检测方法

摘要

基于双谱分析的混频效应非线性超声检测方法,属于无损检测领域。该方法首先通过扫频实验得到激励探头及激励接收探头的幅频特性曲线,根据探头的幅频特性曲线确定探头激励频率或范围;然后进行异侧激励混频模式实验,追踪差频和频信号,根据差频和频信号的幅频响应特性确定激励信号最优频率;在最优频率下的时域接收信号进行双谱分析,根据双谱图中是否出现混频分量判断试件中是否存在结构微裂纹。通过改变激励信号延时,对试件长度方向扫查并追踪差频和频信号,根据差频和频信号的幅频响应特性确定结构微裂纹位置。本发明采用两探头分别激励信号,可避免实验仪器非线性对实验结果的影响;通过控制激励信号的延时时间使两信号相遇可识别裂纹位置。

著录项

  • 公开/公告号CN102980945B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201210384727.5

  • 申请日2012-10-11

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘萍

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-14

    授权

    授权

  • 2013-04-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/12 申请日:20121011

    实质审查的生效

  • 2013-03-20

    公开

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