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光纤干涉仪及用于确定光纤干涉仪的光纤线圈内部的物理状态参数的方法

摘要

一种包括光纤(14)的光纤干涉仪,其中光纤(14)卷绕以形成光纤线圈(16)并且第一光源(10)的两个分光束能够耦合到所述光纤(14)中,所述光纤干涉仪具有整合到所述光纤线圈(16)中的Bragg结构,所述Bragg结构包括具有周期性变化的折射率的光纤。一种用于确定光纤干涉仪的光纤线圈(16)内部的物理状态参数的方法,其特征在于,基于Bragg结构的反射波长获得关于光纤线圈(16)内部中的物理状态参数的信息,其中所述Bragg结构被整合到所述光纤线圈(16)中并且包括具有周期性变化的折射率的光纤。

著录项

  • 公开/公告号CN102132129B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200980133244.4

  • 发明设计人 G·多纳;

    申请日2009-07-17

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 德国弗赖堡

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-03

    授权

    授权

  • 2011-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 19/72 申请日:20090717

    实质审查的生效

  • 2011-07-20

    公开

    公开

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