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采用线光源的光学系统横向放大率测量方法

摘要

采用线光源的光学系统横向放大率测量方法属于以采用光学方法为特征的计量设备领域;本方法是以线光源为目标得到线状图像,在频域中寻找像素间距的取值范围,并根据与像素间距相关的实际调制传递函数曲线与理论调制传递函数曲线在最小二乘条件下重合度最好,利用遗传算法计算得到光学系统横向放大率;采用本发明测量光学系统横向放大率,有利于减小单次测量结果之间的误差,进而提高测量结果重复性。

著录项

  • 公开/公告号CN102620914B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201210085063.2

  • 发明设计人 谭久彬;赵烟桥;刘俭;

    申请日2012-03-17

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-03

    授权

    授权

  • 2012-09-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20120317

    实质审查的生效

  • 2012-08-01

    公开

    公开

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