用于测试多端口存储器器件的运行时可编程BIST

摘要

本发明公开了一种用于测试多端口存储器器件的运行时可编程BIST。一种实施例提供了一种运行时可编程系统，包括测试多端口存储器器件以发现多端口存储器故障，以及在访问存储器器件单个端口时可以激活的典型单端口存储器故障的多种方法和装置。更具体地说，本系统包含多种机制，它们可以配置成在同时进行两个存储器访问操作时，激活和检测影响存储器器件的任何现实故障。在操作中，该系统能够在测试存储器器件时接收指令序列，该指令序列实现测试该存储器器件的新测试程序。此外，该系统可以实现测试任何多端口存储器器件的内置自测试(BIST)解决方案，并且可以部分地以指令序列的信息作为基础，生成针对特定存储器设计的测试。