基于初始化时段期间的测量选择参数/模式的方法和装置

摘要

本发明公开了基于初始化时段期间的测量选择参数/模式的方法和装置。在一个方面，集成电路包括：阈值检测电路，被耦合来在集成电路的初始化时段期间测量来自包括与集成电路的第一外部端子耦合的一个或多个组件的第一外部电路的信号。选择电路被耦合到阈值检测电路，以在集成电路的初始化时段期间响应于来自第一外部电路的信号而选择集成电路的参数/模式。第一外部端子还被耦合到一个或多个各自包括一个或多个组件的额外的外部电路。这些外部电路被耦合来在第一外部端子处提供将在除初始化时段之外的时间的正常工作期间被集成电路使用的一个或多个信号，以在集成电路的初始化时段完成之后为集成电路提供至少一种额外功能。