首页> 中国专利> 用于检测等离子处理室中激发步骤的电容耦合静电(CCE)探针装置及其方法

用于检测等离子处理室中激发步骤的电容耦合静电(CCE)探针装置及其方法

摘要

提供一种识别等离子处理系统的处理室内稳定的等离子的方法。该方法包括在该处理室内执行激发步骤以生成等离子。该激发步骤包括在该处理室内施加相当高气压并在该处理室内维持低射频(RF)功率。该方法还包括采用探针头以采集一组激发步骤过程中的特性参数测量值,该探针头在处理室的表面上,其中该表面非常接近衬底表面。该方法进一步包括将该组特性参数测量值与预定的范围对比。如果该组特性参数测量值在预定的范围内,则存在稳定的等离子。

著录项

  • 公开/公告号CN102084473B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN200980126807.7

  • 申请日2009-07-07

  • 分类号

  • 代理机构上海胜康律师事务所;

  • 代理人周文强

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20141022 终止日期:20170707 申请日:20090707

    专利权的终止

  • 2014-10-22

    授权

    授权

  • 2014-10-22

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20090707

    实质审查的生效

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20090707

    实质审查的生效

  • 2011-06-01

    公开

    公开

  • 2011-06-01

    公开

    公开

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