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一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法

摘要

本发明公开了一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法,利用荧光蛋白选择定位表达在对电离辐射敏感的亚细胞结构上,对电离辐射产生自由基含量进行定量化的测量,从而通过直接观测蛋白荧光强度变化推测电离辐射对细胞具体部位的损伤,本发明发射的荧光易于检测,灵敏度高,荧光性质稳定,在较大的pH范围内也能正常发光,对高温、去垢剂、盐、有机溶剂和大多数普通酶具有较强抗性,对细胞无毒害,不受假阳性干扰,构建载体方便,表达没有种属、组织和位置特异性。

著录项

  • 公开/公告号CN102230895B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN201110079510.9

  • 发明设计人 黄青;柯志刚;余增亮;

    申请日2011-03-31

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构34112 安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-29

    授权

    授权

  • 2011-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20110331

    实质审查的生效

  • 2011-11-02

    公开

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