闭环功率控制性能的测试方法及设备

摘要

本发明公开了一种闭环功率控制性能的测试方法及设备，用以提供一种新的闭环功率控制性能的测试方案。方法包括：针对第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境的至少一个过程，分别确定第一物理信道衰落环境变化为第二物理信道衰落环境时的各第一时间点；以及监控处于第二物理信道衰落环境中的接收端的误块率BLER的值，分别确定监控的BLER的值收敛至对应于各个所述过程的第二物理信道衰落环境所要求的BLER目标值BLERTarget时的各第二时间点；以及根据各第一时间点与相应的第二时间点，确定BLER的值收敛至所述BLERTarget所需的时间长度，并根据与所述时间长度相关的信息，确定闭环功率控制性能。