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晶片划片期间抑制腐蚀和去除表面污染物的方法和其采用的组合物

摘要

在采用锯切划片晶片的过程中抑制污染残渣或颗粒的粘附,能充分减小或消除暴露表面的腐蚀。使用无氟水溶液组合物,该组合物包括二羧酸和/或其盐;羟基羧酸和/或其盐或含氨基的酸;表面活性剂和去离子水。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-14

    专利权的转移 IPC(主分类):C09K 13/00 登记生效日:20170623 变更前: 变更后: 变更前: 变更后: 申请日:20090714

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-09-10

    授权

    授权

  • 2014-09-10

    授权

    授权

  • 2010-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):C09K 13/00 申请日:20090714

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):C09K 13/00 申请日:20090714

    实质审查的生效

  • 2010-05-05

    公开

    公开

  • 2010-05-05

    公开

    公开

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