首页> 中国专利> 制造具有可选择扩散区域的半导体器件的方法以及所制成的伏打器件

制造具有可选择扩散区域的半导体器件的方法以及所制成的伏打器件

摘要

本发明描述了一种制造包括片状半导体衬底(2)的半导体器件的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:步骤1)把基于固体的杂质源的图案选择性地加到所述半导体衬底(2)的第一主表面;步骤2)在包围所述半导体衬底(2)的气体环境下,通过受控的热处理步骤使杂质原子从所述基于固体的杂质源扩散到所述衬底(2)中,杂质从所述基于固体的杂质源直接扩散到所述衬底(2)中以在刚好位于所述基于固体的杂质源的所述图案以下的所述衬底(2)中形成第一扩散区(12),同时,所述杂质从所述基于固体的杂质源经由所述气体环境间接地扩散到所述衬底(2)中,以在所述衬底(2)的未被所述图案覆盖的至少一些区域中形成第二扩散区(15);以及步骤3)形成基本上与所述第一扩散区(12)对准的金属触点图案(20),而基本上无需蚀刻所述第二扩散区(15)。

著录项

  • 公开/公告号CN1155104C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 依麦克VZW;

    申请/专利号CN97180891.0

  • 申请日1997-12-22

  • 分类号H01L31/0224;H01L31/18;H01L21/225;H01L21/223;

  • 代理机构上海专利商标事务所;

  • 代理人张政权

  • 地址 比利时勒芬海弗莱

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-23

    专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L 31/0224 授权公告日:20040623 申请日:19971222

    专利权的终止

  • 2010-07-07

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 31/0224 变更前: 变更后: 申请日:19971222

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2010-07-07

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 31/0224 变更前: 变更后: 申请日:19971222

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2004-06-23

    授权

    授权

  • 2004-06-23

    授权

    授权

  • 2000-03-15

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-03-15

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-01-12

    公开

    公开

  • 2000-01-12

    公开

    公开

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