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一种SON结构MOSFET的制备方法

摘要

本发明公开了一种SON结构MOSFET的制备方法,通过在体硅衬底上生长缓冲层,然后利用栅区光刻版,采用与栅区光刻工艺所用光刻胶极性相反的光刻胶进行光刻,使有源区上用于形成栅区的位置露出,再进行氢氦离子注入,去除光刻胶后经退火在栅区位置下面的有源区内形成空洞层;最后去除缓冲层,进行标准的CMOS工艺。该方法实现了仅仅在MOS沟道下面具有空洞层的SON结构MOSFET,且并不影响源漏区工艺;使用标准CMOS工艺现有的栅区光刻版进行氢氦注入窗口的定义,不必制备额外的光刻版,并且实现了空洞层和栅区位置的准自对准。

著录项

  • 公开/公告号CN102339754B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201010234200.5

  • 发明设计人 黄晓橹;陈静;张苗;王曦;

    申请日2010-07-22

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所;

  • 代理人李仪萍

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 09:20:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/336 授权公告日:20140820 终止日期:20180722 申请日:20100722

    专利权的终止

  • 2014-08-20

    授权

    授权

  • 2014-08-20

    授权

    授权

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20100722

    实质审查的生效

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100722

    实质审查的生效

  • 2012-02-01

    公开

    公开

  • 2012-02-01

    公开

    公开

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