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双模式频标比对与频率稳定度测量装置

摘要

本发明是双模式频标比对与频率稳定度测量装置,主要由频差倍增、差拍、直接数字频率合成器、1PPS处理及嵌入式频标比对与测量模块组成,当采用频差倍增法时,通过选择倍频次数,对多标准频点的频标源进行时域稳定度比对;当采用差拍法时,参考标准频率源通过直接数字频率合成器,再与输入频率范围内的任意频点进行差拍及滤波整形处理,完成时域频率稳定度测量;还带有1PPS处理模块,输出1PPS信号,或实现对1PPS输入信号的同步;频标比对与测量由嵌入式完成,可与PC机互连,由微型计算机实现数据处理与测试。本发明测量精度高,可满足对高精度频标源的比对测量,适合于对普通晶体谐振器、有源晶体振荡器频率稳定度指标的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN102435842B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201110279315.0

  • 申请日2011-09-20

  • 分类号G01R23/02(20060101);G01R1/28(20060101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人王守仁

  • 地址 430071 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2022-08-23 09:20:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 23/02 授权公告日:20140813 终止日期:20170920 申请日:20110920

    专利权的终止

  • 2014-08-13

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    授权

    授权

  • 2014-07-09

    著录事项变更 IPC(主分类):G01R23/02 变更前: 变更后: 申请日:20110920

    著录事项变更

  • 2014-07-09

    著录事项变更 IPC(主分类):G01R 23/02 变更前: 变更后: 申请日:20110920

    著录事项变更

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R23/02 申请日:20110920

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 23/02 申请日:20110920

    实质审查的生效

  • 2012-05-02

    公开

    公开

  • 2012-05-02

    公开

    公开

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