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缺陷检查用图像处理装置和缺陷检查用图像处理方法

摘要

本发明提供一种缺陷检查用图像处理装置等,其能够用产生的光线路径的不同变化来一次性以足够的精度检测出各种类型的缺陷。缺陷检查用图像处理装置(图像分析装置)(6)是对将移动中的成型片用区域相机(5)在时间上连续拍摄的图像数据进行处理的装置,包括:数据提取部(11),其对于图像数据上不同的多个位置,从不同的图像数据中分别提取相同位置的行数据;数据存储部(13),其按照图像数据上的每个位置将多个行数据在时序上进行排列,从而生成多个行合成图像数据;变化量计算部(15),其对多个行合成图像数据进行微分操作符运算,生成多个强调图像数据;相同部位判定提取部(16),其从多个强调图像数据中提取表示成型片的相同部位的强调图像数据;和累计部17,其按照每个像素将提取的强调图像数据的亮度值进行累计,从而生成缺陷检查用图像数据。

著录项

  • 公开/公告号CN102630299B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友化学株式会社;

    申请/专利号CN201080048759.7

  • 发明设计人 广濑修;

    申请日2010-09-29

  • 分类号G01N21/892(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人蒋亭

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:20:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-30

    授权

    授权

  • 2012-10-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/892 申请日:20100929

    实质审查的生效

  • 2012-08-08

    公开

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