首页> 中国专利> 基于全局脊线距离的交叉匹配指纹图像缩放方法

基于全局脊线距离的交叉匹配指纹图像缩放方法

摘要

本发明公开了一种基于全局脊线距离的交叉匹配指纹缩放方法,该方法包括以下步骤:对输入的指纹图像进行分块;计算图像块的能量谱;采用根滤波增强能量谱;计算增强后的能量谱的径向能量分布,得到图像块的脊线距离;结合图像块方向场一致性,计算输入指纹图像的全局脊线距离;对输入的待匹配的两幅指纹图像,根据得到的全局脊线距离进行指纹图像缩放。本发明方法简单,对不同采集仪采集的图像具有普适性,其结果直观,能够实现多采集仪交叉匹配中的指纹图像缩放,提高了多采集仪交叉匹配算法的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN102521795B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201110419882.1

  • 发明设计人 田捷;陶训强;杨鑫;

    申请日2011-12-15

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-23

    授权

    授权

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 3/40 申请日:20111215

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号