一种现场可编程逻辑门阵列触发器传播延迟的测试电路

摘要

一种现场可编程逻辑门阵列触发器传播延迟的测试电路，包括振荡器使能电路、被测异步复位触发器链和复位信号选择电路。本发明通过构建一种环形振荡器来实现对FPGA中触发器信号传播延迟的测试，振荡器的环路中包含了一系列被测触发器，特别是采用了一种级联结构，触发器的输出端连接到下一级触发器的时钟端，输出端所产生的上升沿或者下降沿将驱动环振中的下一级触发器，时钟沿穿越环路中每个触发器的时间之和即环振的振荡周期，最大限度地减少了被测延迟以外的干扰，能够比较精确地测量出FPGA中触发器的输出相对于时钟沿的信号传播延迟，为FPGA应用的时序分析提供了更为精确的参数模型。