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一种用于全极化微波辐射计的校准方法

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摘要

本发明公开了一种用于全极化微波辐射计的校准方法，通过设定全极化微波辐射计校准装置的初值、确定过程矩阵、确定矩阵、确定矩阵的条件数、确定最小的

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-05-11

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 5/10 授权公告日:20140312 终止日期:20150320 申请日:20120320

专利权的终止
2014-03-12

授权

授权
2012-09-19

实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/10 申请日:20120320

实质审查的生效
2012-07-18

公开

公开

1. 一种用于全极化微波辐射计的校准方法 [P] . 中国专利： CN102589716B . 2014.03.12
2. 一种用于全极化微波辐射计系统中可配置的数字相关器 [P] . 中国专利： CN102540146B . 2013.07.24
3. Calibration device and method of calibrating a microwave radiometer [P] . US11187587B1 . 2021-11-30

机译：校准装置和校准微波辐射计的方法
4. Calibration device and method of calibrating a microwave radiometer [P] . US11187587B1 . 2021-11-30

机译：校准装置和校准微波辐射计的方法
5. Dual-polarized cross-correlating radiometer and method and apparatus for calibrating same [P] . 美国专利： US5231404A . 1993-07-27

机译：双极化互相关辐射计及其校准方法和装置