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Calibration device and method of calibrating a microwave radiometer

机译:校准装置和校准微波辐射计的方法

摘要

A calibration device for precise calibration of a microwave radiometer is described. The calibration device has a housing that partially encompasses a calibration chamber. The housing includes a microwave transparent portion that is provided at a wall of the housing. The microwave transparent portion defines an entry for microwaves into the calibration chamber. The microwave transparent portion is made by a microwave transparent material that is insulating. An absorber at a defined temperature is provided within the calibration chamber. An interface between the microwave transparent portion and the absorber is provided, which ensures a substantially reflection free entry of the microwaves into the calibration chamber. The substantially reflection free entry of the microwaves corresponds to capturing at least 3 orders of reflection of the microwaves. Further, a method of calibrating a microwave radiometer is described.
机译:描述了一种用于精确校准微波辐射计的校准装置。 校准装置具有部分地包围校准室的壳体。 壳体包括设置在壳体的壁上的微波透明部分。 微波透明部分将微波进入校准室的条目定义。 微波透明部分由微波透明材料制成,其是绝缘的。 在校准室内提供限定温度的吸收器。 提供微波透明部分和吸收器之间的界面,其确保微波的基本反射进入校准室。 微波的基本反射自由进入对应于捕获微波的至少3个反射级。 此外,描述了一种校准微波辐射计的方法。

著录项

  • 公开/公告号US11187587B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROHDE & SCHWARZ GMBH & CO. KG;

    申请/专利号US202016991596

  • 发明设计人 HARALD CZEKALA;

    申请日2020-08-12

  • 分类号G01J5/08;G01K11;G01J5/02;G01J5;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 22:15:43

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