一种基于多次反射的双光束脉冲干涉法

摘要

一种基于多次反射的双光束脉冲干涉法，用于实现对于由各种待测参量引起的光相位的高灵敏检测。该方法主要使用单光脉冲(P)进行激励和检测，通过定向耦合器(L)进入到信号臂(L1)和参考臂(L2)，在信号臂和参考臂光路中都分别包含有一个由两个部分光耦合器件组成的光腔，使得光脉冲能够在光腔中进行多次反射，使得微小的待测变化量通过多次作用而进行放大，等效于提高了光纤段的有效长度。从信号臂和参考臂输出的两束脉冲光进行相干检测，得到引起的光相位的变化量，从而进一步提高了系统的测量精度，A，B，C，D为光反射镜，Id为光电探测器。