首页> 中国专利> 用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法

用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法

摘要

本发明公开了一种用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法,该传感器包括:上壳体;与上壳体相互对接组合且其底部具有二级阶梯孔的下壳体;设置在下壳体底部最深的阶梯孔内的激励平面线圈;设置在下壳体底部次深的阶梯孔内并与所述激励平面线圈同轴层叠的接收平面线圈;依次设置在接收平面线圈上的屏蔽层和磁铁件;以及安装在上壳体上通过绝缘导线分别与两个平面线圈相连、用于连接测厚仪相连以便执行对试件壁厚的测量的接头。通过上述设计的双线圈及其他元件的布置,使得两个平面线圈在空间上不再相互干涉,使得传感器具有高激励效率、高接收灵敏度和高信噪比,同时降低测量盲区。

著录项

  • 公开/公告号CN102564364B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201110444492.X

  • 发明设计人 武新军;丁旭;

    申请日2011-12-26

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人朱仁玲

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-25

    授权

    授权

  • 2012-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 17/02 申请日:20111226

    实质审查的生效

  • 2012-07-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号