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一种模拟集成电路设计调试的方法

摘要

本发明适用于集成电路设计领域,提供了一种模拟集成电路设计调试的方法,所述方法包括:建立电路器件参数对电路性能的影响趋势表;分析模拟集成电路的仿真波形,确定问题波形;根据所述问题波形确定问题器件的修改参数;确定所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值;根据所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值,确定所述问题器件新的器件参数值。本发明通过分析模拟集成电路的仿真波形,确定问题波形、问题器件修改参数及参数修改方向、修改范围和修改参考值,并据此确定问题器件新的器件参数值,解决了现行模拟集成电路设计调试依赖设计人员经验和知识,设计效率低、速度慢的问题,同时提高了模拟电路设计调试的自动化水平。

著录项

  • 公开/公告号CN102339328B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201010230150.3

  • 发明设计人 吴玉平;陈岚;叶甜春;

    申请日2010-07-19

  • 分类号

  • 代理机构北京华沛德权律师事务所;

  • 代理人王建国

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20100719

    实质审查的生效

  • 2012-02-01

    公开

    公开

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