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用于将电子组件测试机校准到标准化值的补偿工具

摘要

本发明提供一种用于将位于电子测试机的多个测试模块处的每一测试位置校准到标准化值的补偿工具和过程。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上,且具有用于测试电子组件的多个触点。所述补偿工具包括:具有旋转轴线的主体,其可共轴地与所述中心轴线对准以用于旋转到不同角位置;以及组件支撑部件,其可操作地与所述主体相关联以用于转位移动,以选择性地与同每一测试位置相关联的不同触点对准。所述组件支撑部件包括凹穴,其用于接纳具有终止端的电子组件,所述终止端向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。

著录项

  • 公开/公告号CN101978279B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科学工业有限公司;

    申请/专利号CN200980109923.8

  • 申请日2009-03-06

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘国伟

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/02 授权公告日:20130731 终止日期:20160306 申请日:20090306

    专利权的终止

  • 2013-07-31

    授权

    授权

  • 2011-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20090306

    实质审查的生效

  • 2011-02-16

    公开

    公开

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