首页> 中国专利> 全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法

全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法

摘要

一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法,该装置包括:补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括:改变偏控电压,得到电光延迟为2π的光强矩阵;改变偏控电压,得到电光延迟为π/2的光强矩阵;对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本发明具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-18

    专利权的转移 IPC(主分类):G01J 4/00 登记生效日:20190925 变更前: 变更后: 申请日:20120118

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-08-14

    授权

    授权

  • 2013-08-14

    授权

    授权

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J4/00 申请日:20120118

    实质审查的生效

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 4/00 申请日:20120118

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

  • 2012-07-04

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号