二进制数是否为三的倍数的检验装置及芯片

摘要

本发明提供了一种二进制数是否为三的倍数的检验方法，包括：判断二进制数是否大于指定位数N(N＞1)，若是，将二进制数拆分成低位组和高位组两部分；预置一查找表，查找表包括从0至2^N中所有能够被3整除的数；若奇数位的各位数字之和减去偶数位的各位数字之和的差值大于0，则将低位组表示的数减去差值，获取执行结果；若小于0，将低位组表示的数作为被减数，减去将差值的绝对值左移一位后，获取二进制执行结果；在查找表中查找二进制执行结果，如查找到，确定二进制数为三的倍数。通过本发明，避免了现有技术中，检验二进制数是否为三的倍数时，数制转换复杂、减法器位宽较长，迭代次数多的缺陷，进而用最少的资源，最快的效率实现判断。