一种FS型IGBT瞬态温度特性的电热仿真方法

摘要

本发明提供了一种FS型IGBT瞬态温度特性的电热仿真方法。通过对FS型IGBT开关瞬态工作过程的实际测试，结合IGBT工作机理与半导体物理原理进行分析，确定IGBT瞬态温度特性主要受内部过剩载流子寿命影响，从而建立一种电热仿真方法。通过实际测试提取不同温度下的载流子寿命值，得到载流子寿命与温度的关系表达式；通过经验值公式计算，得到门槛电压、跨导、发射极饱和电流与温度的关系表达式；再将温度相关参数的表达式代入FS型IGBT电流拖尾阶段电流解析表达式，及开关瞬态模型方程组进行计算，得到FS型IGBT在不同温度下的瞬态工作波形。本发明中所述的电热模型仿真方法同时具有参数计算简单与准确度高的优点。