公开/公告号CN102079507B
专利类型发明专利
公开/公告日2013-06-05
原文格式PDF
申请/专利权人 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;
申请/专利号CN201010617897.4
申请日2010-12-31
分类号
代理机构
代理人
地址 100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
入库时间 2022-08-23 09:14:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-06-05
授权
授权
2011-07-20
实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20101231
实质审查的生效
2011-06-01
公开
公开
机译: 表面形状缺陷形成区域评估方法,表面形状缺陷形成区域评估方法,表面形状缺陷形成区域评估装置,表面形状缺陷形成区域评估装置,程序和记录介质
机译: 有选择地生产具有高密度结构缺陷的碳纳米管和hidrofeclicos半导体的方法,碳纳米管和hidrofeclicos半导体,以及制造半导体和hidrofeclica的超表面碳,含碳材料以及任何其他材料的方法基板。
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