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在碳纳米管表面形成缺陷的方法

摘要

本发明涉及一种在碳纳米管表面形成缺陷的方法,其包括如下步骤:提供一基底;将至少一第一碳纳米管设置在该基底的一表面;将至少一第二碳纳米管与所述至少一第一碳纳米管交叉且接触设置,所述第二碳纳米管的半径大于所述第一碳纳米管的直径;在该基底的表面沉积一掩膜层,所述掩膜层的厚度大于所述第一碳纳米管的直径且小于所述第二碳纳米管的半径;对沉积有掩膜层的基底进行刻蚀,去除所述第二碳纳米管且在所述第一碳纳米管与所述第二碳纳米管接触的部位形成至少一缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN102079507B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201010617897.4

  • 发明设计人 王雪深;李群庆;范守善;

    申请日2010-12-31

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-05

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20101231

    实质审查的生效

  • 2011-06-01

    公开

    公开

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