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一种电路问题设计布图定位调整的方法

摘要

本发明适用于集成电路设计领域,提供了一种电路问题设计布图定位调整的方法,所述方法包括:建立布图问题对电路性能的影响趋势表;对模拟集成电路前仿真波形和后仿真波形比较分析,确定模拟集成电路问题波形;根据问题波形定位影响模拟集成电路性能的寄生RLC问题序列;根据寄生RLC问题序列确定寄生RLC位置;根据寄生RLC位置确定寄生RLC连接的器件和对应的物理连接;确定问题设计布图;根据布图问题对电路性能的影响趋势表调整问题设计布图。本发明通过自动定位模拟集成电路问题设计布图并进行调整,解决了现行模拟集成电路设计布图问题的定位调整效率低、速度慢的问题,同时提高了模拟集成电路设计布图问题定位调整的自动化水平。

著录项

  • 公开/公告号CN102339331B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201010230166.4

  • 发明设计人 吴玉平;陈岚;叶甜春;

    申请日2010-07-19

  • 分类号

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人王建国

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-05

    授权

    授权

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20100719

    实质审查的生效

  • 2012-02-01

    公开

    公开

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